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負(fù)剛度隔振平臺(tái)在原子力顯微鏡中的應(yīng)用
原子力顯微鏡(AFM)已成為在納米尺度上對(duì)材料和細(xì)胞進(jìn)行成像與測(cè)量的最重要工具之一。原子力顯微鏡能夠揭示原子級(jí)別的樣品細(xì)節(jié),分辨率可...
深度解析用單原子如何實(shí)現(xiàn)高效電池性能!
可充電鋅空氣電池(ZABs)被認(rèn)為是后鋰離子時(shí)代最可持續(xù)的替代系統(tǒng)之一,其展現(xiàn)出關(guān)鍵原材料的最低依賴性和較高的理論能量密度。
雙層石墨烯/BN異質(zhì)結(jié)構(gòu)中相稱態(tài)的電子特性研究
當(dāng)單層石墨烯和 BN 的晶體學(xué)排列幾乎完美(層與層之間接近零度)時(shí),石墨烯的電子、機(jī)械和光學(xué)特性會(huì)發(fā)生強(qiáng)烈變...
內(nèi)部應(yīng)力緩解促成的用于鋰離子電池的高性能富硅微粒負(fù)極
對(duì)于微米級(jí)顆粒硅負(fù)極來(lái)說(shuō),循環(huán)過(guò)程中嚴(yán)重的顆粒粉碎阻礙了其在鋰離子電池中的實(shí)際應(yīng)用。
用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)身體數(shù)據(jù)的聚合物半導(dǎo)體薄膜
你能想象,以后監(jiān)測(cè)身體信息不需要龐大的儀器和復(fù)雜的操作,只需要一個(gè)小小的貼片便能進(jìn)行測(cè)試?
長(zhǎng)/長(zhǎng)波雙色I(xiàn)nAs/GaSb超晶格焦平面探測(cè)器芯片研究
雙色紅外探測(cè)器可以同時(shí)獲取目標(biāo)和環(huán)境在兩個(gè)波段的輻射特征,從而有效抑制復(fù)雜的背景噪聲,實(shí)現(xiàn)不受環(huán)境制約的紅外...
原子制造中的物質(zhì)間相互作用基礎(chǔ)知識(shí)解析
有一種觀點(diǎn)認(rèn)為,人類文明的發(fā)展進(jìn)程可根據(jù)利用的主要材料種類分成幾個(gè)階段,如石器時(shí)代、青銅時(shí)代、鋼鐵時(shí...
2023-07-24 標(biāo)簽:三極管二極管轉(zhuǎn)換器 1975 0
共軛MOF納米片中共生強(qiáng)化的雙金屬光催化作用!
節(jié)能、清潔、穩(wěn)定的光催化制氫是生產(chǎn)可再生氫氣資源的最有前途的途徑之一,在碳經(jīng)濟(jì)和能源技術(shù)中起著舉足輕重的作用。
無(wú)F醚設(shè)計(jì)!穩(wěn)定高溫NCM811-Li電池界面
金屬鋰(Li)因其低密度、高理論比容量和最低的電化學(xué)勢(shì)而被視為下一代電池負(fù)極材料的最終選擇。
相結(jié)工程觸發(fā)內(nèi)置電場(chǎng)助力-30℃快充電池
快速充電鋰離子電池在低溫(<30℃)下的高運(yùn)行能力對(duì)于寒冷地區(qū)電網(wǎng)的頻率調(diào)節(jié)和峰值負(fù)荷轉(zhuǎn)換至關(guān)重要...
當(dāng)下的量子材料碩大領(lǐng)域中,有諸多主演。最受矚目的兩位,自然是超導(dǎo)電性和拓?fù)淞孔討B(tài)。
這是一種晶圓鍵合方法,其中兩個(gè)表面之間的粘附是由于兩個(gè)表面的分子之間建立的化學(xué)鍵而發(fā)生的。
介紹基于qPlus力傳感器的AFM及其在各種體系中的應(yīng)用
顯微鏡是人類認(rèn)識(shí)微觀世界的最重要工具之一。光學(xué)顯微鏡的誕生讓人們第一次看到了細(xì)菌、細(xì)胞等用肉眼無(wú)法看到的微小物體,從而打開(kāi)了嶄新的...
超靈敏的納米機(jī)械儀器,如原子力顯微鏡(AFM)和納米壓痕儀,可以完成精細(xì)的生物力學(xué)測(cè)量,從而揭示生命活動(dòng)中復(fù)雜的生物力學(xué)機(j...
彈性界面相抑制氣體產(chǎn)生和促進(jìn)鈉金屬負(fù)極均勻沉積
鈉電池負(fù)極在醚類電解質(zhì)中表現(xiàn)出優(yōu)異的性能,優(yōu)于酯類電解質(zhì)。然而,其中的機(jī)制尚不清晰,而揭示該機(jī)制有助于診斷酯類電解質...
利用In2.77S4/多孔有機(jī)聚合物光催化還原CO2制乙烯
近年來(lái),對(duì)化石燃料的依賴增加了大氣中的CO2含量,導(dǎo)致全球變暖。自20世紀(jì)70年代以來(lái),科學(xué)家們一直在努力模仿自然光合作用...
如何用埃級(jí)分辨的TERS技術(shù)去追蹤單個(gè)化學(xué)鍵呢
掃描探針顯微術(shù)(Scanning Probe Microscopy, SPM)是一種利用探針對(duì)表面形貌進(jìn)行直接探測(cè)的高分辨結(jié)構(gòu)表征技術(shù...
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