摘要

　　存儲器相關的問題是DSP 應用中非常普遍的問題。本文介紹KeyStone I 系列DSP 上一些存儲器測試的方法。

　　1 KeyStone DSP 存儲器系統簡介

　　KeyStone DSP 存儲器架構如圖1 所示。

　　圖1 KeyStone DSP 存儲器架構

　　對不同的DSP，存儲器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 傳輸控制器的個數也可能不同。表1比較了KeyStone I 系列中常用的3顆DSP。

　　表1 KeyStone I 存儲器系統比較

　　2 存儲器測試算法

　　本文介紹幾種存儲器測試算法，并討論這幾種算法的用途。

　　2.1 數據測試

　　下面是數據測試的偽代碼：

　　for（memory range under test）

　　fill the memory with a value;

　　for（memory range under test）

　　read back the memory and compare the readback value to the written value

　　通常，這個測試會被執行幾次，每次填充的值不一樣。常用的填充值包括0x55555555，0xAAAAAAAA， 0x33333333， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F， 0xF0F0F0F0， 0x00FF00FF，0xFF00FF00FF00， 0xFFFFFFFF， 0。

　　這個測試可以用來檢測數據比特粘連（bit-stuck）問題，例如，如果，

　　written value = 0， readback value = 0x8，

　　表示bit 3 粘連到1.

　　如果

　　written value = 0xFFFFFFFF， readback value = 0xFFFFFFFE，

　　表示bit 0 粘連到0.

　　如果能正確的寫入并讀出0x55555555（或0xAAAAAAAA），說明相鄰的兩個比特沒有粘連；如果能正確寫入并讀出0x33333333（或0xCCCCCCCC），說明相鄰的4 個比特沒有粘連；如果能正確寫入并讀出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），說明相鄰的8 個比特沒有粘連…

　　這個算法既可以用來測試數據總線連接，也可以用于測試存儲器單元。當用于測試存儲器單元時則每一個存儲單元都需要寫讀所有的值，這將是比較耗時的測試；而用于測試數據總線連接時，只需要把所有的值都寫讀一遍就可以了（地址不限）。

　　2.2 地址測試

　　地址測試的偽代碼如下：

　　for（memory range under test）

　　fill each memory unit with its address value;

　　for（memory range under test）

　　read back the memory and compare the readback value to the written value

　　這個測試可以用來檢測地址比特粘連（bit-stuck）問題。例如，如果

　　written value = 0 at address 0

　　written value = 1 at address 1

　　written value = 2 at address 2

　　written value = 3 at address 3

　　……

　　readback value = 2 at address 0

　　readback value = 3 at address 1

　　readback value = 2 at address 2

　　readback value = 3 at address 3

　　……

　　則說明地址線的比特1 粘連，因為地址0，2 中的數據相同，地址1，3 中的數據相同。

　　這個測試的主要目的是測試地址線和存儲器中的地址譯碼單元，但它實際上對所有存儲單元都做了數據寫讀，所以在一定程度上也測試了數據總線和存儲單元。如果由于測試時間的限制，只允許對整個存儲器空間進行一遍寫讀測試時，本節介紹的地址測試是首選。

　　本文選自電子發燒友網6月《智能工業特刊》Change The World欄目，轉載請注明出處！